Nikons XT-Tract Software bietet CT-Qualitätsprüfungsergebnisse komplexer, vielschichtiger Elektronikbaugruppen, ohne dass die Platine dafür extra zugeschnitte werden muss. In einem schnellen und benutzerfreundlichen Verfahren werden virtuelle Schnittbilder aus jeder Perspektive erstellt. X-Tract ist in der Lage, Defekte komplexer Bauteile anzuzeigen, die auf 2D-Röntgenbildern unentdeckt bleiben würden.

X-Tract bietet vollautomatisierte Erfassung, vielfältige Bildverarbeitung und eine detaillierte Auswertungsfunktion. Der Benutzer erhält einen besseren Einblick in komplexe Chipgehäuse, wie z.B. „Package on Package (PoP)“ oder „multi-layer“ Leiterplatten. Diese Möglichkeit führt zu reduzierten Pseudofehlerraten und höherer Produktivität.

• Identifiziert schnell und effizient Defekte in komplexen Mehrschichtplatten
• 2D-Bildschnitte aus verschiedenen Perspektiven ermöglichen klare und detaillierte Ansicht
• Für mehrschichtige Baugruppen und große Platinen geeignet
• Automatisierte und schnelle Erfassung innerhalb von wenigen Minuten
• Option für XT V 160 Systeme